一种存储器坏点定位方法及装置

摘要

本发明实施例公开了一种存储器坏点定位方法及装置，涉及通信技术领域，能够提高存储器坏点的定位效率，并详细记录存储器坏点的定位信息。该方法包括：定位装置在定位模式下对满足预设条件的待测试存储器进行存储器内建自测MBIST测试；当MBIST测试发生错误时，停止测试，记录发生错误的当前坏点在存储器中的定位信息；从当前坏点开始，继续执行MBIST测试，定位存储器中的下一个坏点，直到将待测试存储器全部测试完。本发明用于存储器坏点的定位。

主权项

一种存储器坏点定位方法，其特征在于，所述方法包括：定位装置在定位模式下对满足预设条件的待测试存储器进行存储器内建自测MBIST测试，当所述MBIST测试发生错误时，停止测试；所述定位装置记录发生错误的当前坏点在存储器中的定位信息；所述定位装置从所述当前坏点开始，继续执行所述MBIST测试，定位存储器中的下一个坏点，直到将所述待测试存储器全部测试完。