| 发明名称 | 相变存储器中的单元状态确定 | ||
| 摘要 | 提供了用于确定相变储存器单元（10）的状态的方法和装置。用时间变化的读取电压（Vread）偏置单元（10），然后进行测量（TM）。测量（TM）依赖于满足预定条件。该条件依赖于施加读取电压（Vread）期间的单元电流。然后测量（TM）用于确定单元（10）的状态。 | ||
| 申请公布号 | CN103415889A | 申请公布日期 | 2013.11.27 |
| 申请号 | CN201280012580.5 | 申请日期 | 2012.02.24 |
| 申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | A.潘塔齐;N.帕潘德里奥;C.波齐迪斯;A.塞巴斯蒂安;U.弗雷 |
| 分类号 | G11C13/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C13/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 周少杰 |
| 主权项 | 一种用于确定相变储存器单元（10）的状态的方法，所述方法包括：用时间变化的读取电压（Vread）偏置单元（10）；进行依赖于满足预定条件的测量（TM），该条件依赖于施加读取电压期间的单元电流；以及依赖于所述测量确定单元（10）的状态。 | ||
| 地址 | 美国纽约阿芒克 | ||