发明名称 一种用于电子器件封装的硅基转接板的制备方法
摘要 本发明涉及一种用于电子器件封装的硅基转接板的制备方法,属于半导体封装技术领域。其工艺过程如下:基体(110)内刻蚀盲孔(111)和与盲孔(111)连接的基体底部开口(112),盲孔(111)的内和基体(110)的上表面设置绝缘层Ⅰ(210)和金属层Ⅰ(310),金属层Ⅰ(310)上方设置若干层金属层Ⅲ(330)和介电层(400),并通过介电层开口(401)实现电气连通;基体底部开口(112)内填充绝缘层Ⅱ(220),并设置金属层Ⅱ(320),所述金属层Ⅱ(320)通过绝缘层Ⅱ开口图形(221)与金属层Ⅰ(310)实现电气连通。本发明降低了工艺难度和工艺成本,具备规模化生产能力,并且可实现转接板的高密度技术,有利于应用该硅基转接板结构的电子器件的推广。
申请公布号 CN103413768A 申请公布日期 2013.11.27
申请号 CN201310375132.8 申请日期 2013.08.26
申请人 江阴长电先进封装有限公司 发明人 张黎;赖志明;陈锦辉
分类号 H01L21/48(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/48(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 彭英
主权项 一种用于电子器件封装的硅基转接板的制备方法,其工艺过程如下:步骤一、提供基体(110); 步骤二、在基体(110)的上表面涂覆光刻胶(G1),通过光刻工艺形成光刻胶开口图形(G11); 步骤三、通过刻蚀工艺对应于光刻胶开口图形(G11)在基体(110)上形成倒梯形的盲孔(111),再利用去胶工艺去除光刻胶(G1); 步骤四、在盲孔(111)内和基体(110)的上表面生长或沉积绝缘层Ⅰ(210); 步骤五、在上述盲孔(111)内和基体(110)的上方依次通过溅射、光刻、电镀或化学镀的方法形成金属层Ⅰ(310),并在盲孔(111)内形成金属层盲孔Ⅰ(311),在金属层Ⅰ(310)周围涂覆介电层(400),介电层(400)填充金属层盲孔Ⅰ(311),并在金属层Ⅰ(310)上通过光刻工艺形成介电层开口(401); 步骤六、在介电层(400)表面依次通过溅射、光刻、电镀或化学镀的方法形成金属层Ⅲ(330),金属层Ⅲ(330)与金属层Ⅰ(310)通过介电层开口(401)连接,实现电气连通; 步骤七、在金属层Ⅲ(330)的周围覆盖保护层Ⅰ(510),通过光刻工艺于金属层Ⅲ(330)的表面形成保护层Ⅰ开口图形(511); 步骤八、提供载体圆片(T1),载体圆片(T1)通过键合胶(T2)与上述结构的保护层Ⅰ(510)键合;步骤九、通过化学机械研磨减薄上述基体(110)的下表面; 步骤十、在上述基体(110)的下表面涂覆光刻胶(G2),通过光刻工艺形成光刻胶开口图形(G21); 步骤十一、对应于光刻胶开口图形(G21),通过刻蚀工艺去除步骤九中盲孔(111)下方剩余的基体(110),并去除盲孔(111)底部的绝缘层Ⅰ(210)露出金属层Ⅰ(310),形成深度不大于30微米的基体底部开口(112),再利用去胶工艺去除光刻胶(G2); 步骤十二、在基体底部开口(112)内和基体(110)的下表面生长或沉积绝缘层Ⅱ(220),并通过光刻工艺形成绝缘层Ⅱ开口图形(221); 步骤十三、在绝缘层Ⅱ开口图形(221)内和绝缘层Ⅱ(220)表面依次通过溅射、光刻、电镀或化学镀的方法形成金属层Ⅱ(320),并形成金属层盲孔Ⅱ(321); 步骤十四、所述金属层Ⅱ(320)的表面设置保护层Ⅱ(520),并通过光刻工艺形成保护层Ⅱ开口图形(521),所述保护层Ⅱ开口图形(521)内设置焊球或金属凸点结构; 步骤十五、通过解除键合的方法去除载体圆片(T1)和键合胶(T2); 所述用于电子器件封装的硅基转接板,包括基体(110),所述基体(110)内设置盲孔(111)和与盲孔(111)连接的基体底部开口(112),所述盲孔(111)呈倒梯形,所述基体底部开口(112)的开口尺寸不小于盲孔(111)底部的尺寸,所述盲孔(111)的内壁沉积绝缘层Ⅰ(210),所述绝缘层Ⅰ(210)向上延伸并覆盖基体(110)的上表面,所述绝缘层Ⅰ(210)的表面设置金属层Ⅰ(310),所述金属层Ⅰ(310)从基体(110)的上方向盲孔(111)内延伸,并于盲孔(111)的底部相连接,所述金属层Ⅰ(310)于盲孔(111)内形成金属层盲孔Ⅰ(311), 所述金属层Ⅰ(310)的周围涂覆介电层(400),所述介电层(400)填充金属层盲孔Ⅰ(311),并于金属层Ⅰ(310)的上方形成介电层开口(401),所述介电层(400)的表面设置金属层Ⅲ(330),所述金属层Ⅲ(330)通过介电层开口(401)与金属层Ⅰ(310)实现电气连通,所述金属层Ⅲ(330)的周围覆盖保护层Ⅰ(510),所述保护层Ⅰ(510)于金属层Ⅲ(330)的表面形成保护层Ⅰ开口图形(511),所述基体底部开口(112)内沉积绝缘层Ⅱ(220)并形成绝缘层Ⅱ开口图形(221),所述绝缘层Ⅱ(220)与绝缘层Ⅰ(210)于盲孔(111)的底部相连接、且沿基体底部开口(112)向下延伸并覆盖基体(110)的下表面,所述绝缘层Ⅱ(220)表面设置金属层Ⅱ(320),所述金属层Ⅱ(320)填充绝缘层Ⅱ开口图形(221)、并与金属层Ⅰ(310)于盲孔(111)的底部实现电气连通,所述金属层Ⅱ(320)的表面设置保护层Ⅱ(520),并形成保护层Ⅱ开口图形(521),所述保护层Ⅱ开口图形(521)内设置焊球或金属凸点结构,所述金属层Ⅱ(320)于基体底部开口(112)内形成金属层盲孔Ⅱ(321),所述金属层盲孔Ⅱ(321)内填充保护层Ⅱ(520)。
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