| 发明名称 | 检测系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种检测系统，涉及检测技术领域，用以解决现有技术中液晶面板产品良品率低，且浪费成本的问题。所述检测系统，用于检测待测物上的瑕疵，包括显示处理装置，所述显示处理装置连接有可调光源；所述可调光源连接有至少一个光发射器；所述检测系统还包括与所述光发射器相配合的至少一个光接收器；所述光接收器与所述显示处理装置相连接；所述显示处理装置，用于处理所述光接收器提供的信息并形成检测图像，调节所述可调光源。本发明主要用在液晶面板产品中。 | ||
| 申请公布号 | CN103412421A | 申请公布日期 | 2013.11.27 |
| 申请号 | CN201310328461.7 | 申请日期 | 2013.07.31 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 | 发明人 | 梁魁;袁剑峰;林承武 |
| 分类号 | G02F1/13(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I | 主分类号 | G02F1/13(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人 | 申健 |
| 主权项 | 一种检测系统，用于检测待测物上的瑕疵，其特征在于，包括显示处理装置，所述显示处理装置连接有可调光源；所述可调光源连接有至少一个光发射器；所述检测系统还包括与所述光发射器相配合的至少一个光接收器；所述光接收器与所述显示处理装置相连接；所述显示处理装置，用于处理所述光接收器提供的信息并形成检测图像，调节所述可调光源。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||