可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统

摘要

本发明公开了一种可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统，包括探针测试平台，所述探针测试平台包括待测芯片（1）、内置放射源（3）的铅容器（4）和观测待测芯片变化的显微镜（2），其特征在于所述系统还包括辐射防护暗箱（5），所述探针测试平台设置在辐射防护暗箱（5）内，所述铅容器上端开口，待测芯片（1）放置在铅容器开口上，所述待测芯片（1）上端设置探针座（8）；所述铅容器下端设置调节待测芯片（1）的空间位置的空间位置调节装置。该系统不仅具有普通探针台的测试功能，而且能方便地、安全地实现光子辐射芯片的测试。

主权项

一种可用于X射线、γ射线辐射实验的多功能探针台测试系统，包括探针测试平台，所述探针测试平台包括待测芯片（1）、内置放射源（3）的铅容器（4）和观测待测芯片变化的显微镜（2），其特征在于所述系统还包括辐射防护暗箱（5），所述探针测试平台设置在辐射防护暗箱（5）内，所述铅容器上端开口，待测芯片（1）放置在铅容器开口上，所述待测芯片（1）上端设置探针座（8）；所述铅容器下端设置调节待测芯片（1）的空间位置的空间位置调节装置；所述铅容器包括上盖（41）、两端开口的罩筒（42）和设置在罩筒下端支撑放射源的支撑座（43），所述放射源设置在罩筒（42）内，所述支撑座与罩筒孔轴配合隔离罩筒下端开口；所述上盖设置在罩筒上端隔离罩筒上端开口。