发明名称 测试装置
摘要 一种测试装置,用以在一电路板上测试一待测物。测试装置包含一第一载体、一第二载体及一测试治具。第一载体位于电路板上,并电性连接电路板,且第一载体具有一第一长度。第二载体位于第一载体上,并电性连接第一载体,且第二载体具有一第二长度。测试治具位于第二载体上,并电性连接第二载体及待测物。其中,第二长度大于第一长度,第一载体、第二载体载体与电路板之间形成一可用空间。
申请公布号 TWI416134 申请公布日期 2013.11.21
申请号 TW099126784 申请日期 2010.08.11
申请人 钜景科技股份有限公司 发明人 黄少枫;傅政伟;王安杰
分类号 G01R31/01 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项
地址 新北市中和区建一路186号8楼之1 TW 8F.-1, NO. 186, JIAN 1ST RD., JHONGHE DIST., NEW TAIPEI CITY 235, TAIWAN (R. O. C.)