发明名称 用以利用多波长量测三维形状之装置与方法
摘要 本文揭露一用以量测三维形状的装置及方法。该装置包括一转移平台、一第一投影机、一第二投影机、一摄影单元及一控制单元。该转移平台转移一量测物件至一量测位置。该第一投影机沿一第一方向朝向该量测物件照射具有一第一等效波长的一第一图案光线。该第二投影机沿一第二方向朝向该量测物件照射具有一与该第一等效波长不同的第二等效波长的一第二图案光线。该摄影单元拍摄一产生于该第一图案光线被该量测物件反射时的一第一图案影像、及一产生于该第二图案光线被该量测物件反射时的一第二图案影像。该控制单元控制该第一投影机及该第二投影机,并经由该第一图案影像及该第二图案影像取得该量测物件的一个三维形状。
申请公布号 TWI416066 申请公布日期 2013.11.21
申请号 TW098134484 申请日期 2009.10.12
申请人 高永科技股份有限公司 南韩 发明人 金珉永
分类号 G01B11/25 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 南韩