发明名称 非挥发性半导体记忆装置
摘要 提议一非挥发性半导体记忆装置,可以比知更自由地设定选择记忆单元电晶体中累积电荷之际的电压。非挥发性半导体记忆装置(1),在选择记忆单元电晶体(115)中累积电荷之际,从P型MOS电晶体(9b)施加高电压的写入禁止电压,且从N型MOS电晶体(15a)施加低电压的写入电压,对选择记忆单元电晶体(115)或非选择记忆单元电晶体(116)施加电压的任务分担,分配至P型MOS电晶体(9b)及N型MOS电晶体(15a),藉此可以个别调整P型MOS电晶体(9b)及N型MOS电晶体(15a)的闸极电压及源极电压,最后可以设定闸极基板间电压为例如4V等。
申请公布号 TWI416526 申请公布日期 2013.11.21
申请号 TW101134403 申请日期 2012.09.20
申请人 佛罗迪亚股份有限公司 日本 发明人 品川裕;葛西秀男;谷口泰弘
分类号 G11C16/08;G11C16/10 主分类号 G11C16/08
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 日本