发明名称 |
电浆蚀刻装置及以该装置选择掺杂区或接触区的半导体制程方法 |
摘要 |
本发明提供一种电浆蚀刻装置,可针对一表面镀有抗反射层或隔绝层的半导体基材进行选择性蚀刻,以定义出掺杂区或接触区,其特征在于电浆蚀刻装置包括一选择性蚀刻遮板,当进行蚀刻制程时,以选择性蚀刻遮板为罩幂,对半导体基材进行非等向性蚀刻,产生一开放图案。 |
申请公布号 |
TWI416625 |
申请公布日期 |
2013.11.21 |
申请号 |
TW099120833 |
申请日期 |
2010.06.25 |
申请人 |
英稳达科技股份有限公司 桃园县大溪镇仁和路2段349号 |
发明人 |
简荣吾 |
分类号 |
H01L21/3065;H01L31/18 |
主分类号 |
H01L21/3065 |
代理机构 |
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代理人 |
翁仁滉 台北市大同区长安西路45之1号11楼之3 |
主权项 |
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地址 |
桃园县大溪镇仁和路2段349号 |