发明名称 电浆蚀刻装置及以该装置选择掺杂区或接触区的半导体制程方法
摘要 本发明提供一种电浆蚀刻装置,可针对一表面镀有抗反射层或隔绝层的半导体基材进行选择性蚀刻,以定义出掺杂区或接触区,其特征在于电浆蚀刻装置包括一选择性蚀刻遮板,当进行蚀刻制程时,以选择性蚀刻遮板为罩幂,对半导体基材进行非等向性蚀刻,产生一开放图案。
申请公布号 TWI416625 申请公布日期 2013.11.21
申请号 TW099120833 申请日期 2010.06.25
申请人 英稳达科技股份有限公司 桃园县大溪镇仁和路2段349号 发明人 简荣吾
分类号 H01L21/3065;H01L31/18 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 翁仁滉 台北市大同区长安西路45之1号11楼之3
主权项
地址 桃园县大溪镇仁和路2段349号
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