Vorrichtung zum Realisieren einer physikalischen Degradations-/Tampererkennung eines digitalen ICs mittels einer (digitalen) PUF und Unterscheiden zwischen einer Degradation aufgrund von physikalischer Manipulation und aufgrund von Alterungsprozessen

摘要

Um eine Fehlfunktion eines IC zuverlässig zu detektieren umfasst ein integrierter Schaltkreis (IC) einen Integritätssensor (4) und eine Prüfeinheit (3). Der Integritätssensor (4) basiert auf einer Physical Unclonable Function (24). Die Prüfeinheit (3) ist ausgebildet, dem Integritätssensor (4) ein Challenge-Signal (C) zu senden und anhand eines darauf durch die Physical Unclonable Function (24) erzeugten und durch den Integritätssensor (4) an die Prüfeinheit (3) gesendeten Response-Signales (R) eine Information über eine Degradation des integrierten Schaltkreises (IC) zu ermitteln. Anhand eines zeitlichen Verlaufs der Information über die Degradation wird unterschieden, ob eine ermittelte Degradation des integrierten Schaltkreises (1, 11) auf eine physikalische Manipulation oder einen Alterungsprozess zurückzuführen ist.