发明名称 Verfahren zur Herstellung von FinFET-Vorrichtungen mit alternativen Kanalmaterialien
摘要 Ein hierin angegebenes veranschaulichendes Verfahren umfasst ein Durchführen eines ersten Ätzprozesses durch eine strukturierte Hartmaskenschicht, um mehrere voneinander beabstandete Gräben in einem Substrat festzulegen, die für die Vorrichtung einen ersten Teil eines Grats festlegen, Bilden einer Schicht aus isolierendem Material in den Gräben und Durchführen eines Planarisierungsprozesses an der Schicht aus isolierendem Material, um die strukturierte Hartmaske freizulegen, Durchführen eines zweiten Ätzprozesses, um die Hartmaskenschicht zu entfernen und in der Schicht aus isolierendem Material eine Vertiefung festzulegen, Bilden eines zweiten Teils des Grats in der Vertiefung, wobei der zweite Teil des Grats aus einem halbleitenden Material besteht, das von dem des Substrats verschieden ist, und Durchführen eines dritten Ätzprozesses an der Schicht aus isolierendem Material, so dass sich eine obere Fläche des isolierenden Materials unterhalb einer oberen Fläche des zweiten Teils des Grats befindet.
申请公布号 DE102013209110(A1) 申请公布日期 2013.11.21
申请号 DE201310209110 申请日期 2013.05.16
申请人 GLOBALFOUNDRIES INC. 发明人 MASZARA, WITOLD P.;JACOB, AJEY P.;LICAUSI, NICHOLAS V.;FRONHEISER, JODY A.;AKARVARDAR, KEREM
分类号 H01L21/336;H01L21/306;H01L21/84;H01L29/267 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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