发明名称 用于分析和诊断大规模过程自动化控制系统的方法
摘要 提供一种用于分析和诊断具有多个控制回路的大规模过程自动化控制系统的方法。针对每个控制回路的控制、过程和信号分段自动生成用于预定义关键性能指标(KPI)的评定。可以在计算机的图形用户界面(GUI)中显示预定义KPI的自动生成的评定。用户可以改变自动生成的预定义KPI的评定。也可以在GUI中显示不同数据视图。数据视图包括用于测量的过程变量、控制器输出、控制器设置点和误差的时间序列趋势,以及在二维和三维图中的控制器参数聚类视图。
申请公布号 CN103403638A 申请公布日期 2013.11.20
申请号 CN201280011403.5 申请日期 2012.01.24
申请人 ABB公司 发明人 K·D·斯塔尔;T·A·玛斯特;R·T·加弗里克
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 王茂华;张臻贤
主权项 一种由计算机执行的用于分析可操作以控制过程的控制系统的多个控制回路中的一个或者多个控制回路的方法,所述控制回路均具有控制器、最终控制元件和测量设备,所述测量设备用于向所述控制器提供由所述控制器控制的过程变量的测量结果,所述方法包括:从用户接收用于分析的所述控制回路之一的选择;生成针对用于所选择的控制回路的第一分段、第二分段和第三分段中的每个分段的预定义关键性能指标(KPI)的评定,所述第一分段涉及所选择的控制回路的所述控制器,所述第二分段涉及所述过程和所选择的控制回路的所述最终控制元件,并且所述第三分段涉及所述选择的控制回路的所述过程变量的所述测量结果;在所述计算机的图形用户界面(GUI)的单个屏幕中显示所选择的控制回路的至少两个不同类型的控制数据,所述控制数据类型选自于由下列项构成的组:所述过程变量的所述测量结果、所述控制器的输出、所述控制器的设置点、所述控制器的比例调谐参数、所述控制器的积分调谐参数和误差,所述误差是在所述控制器的所述设置点与所述过程变量的所述测量结果之间的差值;在所述计算机的所述GUI的所述单个屏幕中显示所生成的用于所选择的控制回路的所述预定义KPI的评定;从用户接收针对用于所选择的控制回路的所述KPI中的一个KPI的不同评定;以及在所述计算机的所述GUI的所述单个屏幕中显示所接收的用于所选择的控制回路的所述预定义KPI中的所述一个KPI的不同评定,以代替所生成的针对用于所选择的控制回路的所述预定义KPI中的所述一个KPI的评定。
地址 美国北卡罗来纳州
您可能感兴趣的专利