| 摘要 |
1. Способ контроля интенсивности электронного луча, образующего плазму при своем распространении, причем для распознавания изменений интенсивности электронного луча обнаруживают и анализируют электронное излучение или электромагнитное излучение, создаваемое непосредственно или косвенно электронным лучом, при этом для измерительной регистрации электронного или электромагнитного излучения, создаваемого непосредственно или косвенно электронным лучом, предусмотрен детектор, отличающийся тем, что детектор направляют через стенку прозрачного или просвечивающего упаковочного материала на плазму.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что анализируют электромагнитное УФ-излучение или электромагнитное световое излучение.3. Способ по п.2, отличающийся тем, что излучение анализируют во время распространения электронного луча в атмосферном воздухе или азоте или аргоне.4. Способ по п.3, отличающийся тем, что для сокращения числа микроорганизмов на участке поверхности упаковочного материала применяют электронный луч.5. Способ по п.4, отличающийся тем, что на участке поверхности емкости сокращают количество микроорганизмов.6. Способ по любому из пп.1-5, отличающийся тем, что излучение, образуемое электронным лучом, обнаруживают с помощью полупроводникового датчика.7. Способ по п.6, отличающийся тем, что в качестве полупроводникового датчика применяют чувствительный к излучению или свету диод.8. Способ по п.6, отличающийся тем, что в качестве полупроводникового датчика применяют ПЗС-кристалл или КМОП-кристалл или фотодиод или фототранзистор или фоторезистор.9. Способ по п.7 или 8, отличающийся тем, что электромагнитное излуч |
