| 发明名称 | 获取正电子发射断层扫描系统响应模型与图像重建的方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型及图像重建的方法及装置。一种正电子发射断层扫描的图像重建方法，包括：获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息；根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型；根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型；以及，根据所述的系统响应模型进行图像重建。 | ||
| 申请公布号 | CN103393434A | 申请公布日期 | 2013.11.20 |
| 申请号 | CN201310345039.2 | 申请日期 | 2013.08.09 |
| 申请人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明人 | 魏龙;贠明凯;樊馨;刘双全;张玉包;曹学香;周小林;王璐;孙丽;高娟;王海鹏;李默涵;章志明;黄先超 |
| 分类号 | A61B6/03(2006.01)I;G06T11/00(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人 | 李昕巍;赵根喜 |
| 主权项 | 一种获取正电子发射断层扫描的系统响应模型的方法，包括：获取γ光子入射到晶体条阵列的深度效应响应信息；根据所述深度效应响应信息符合生成背对背的γ光子入射晶体条对时决定的响应线的深度效应响应模型；以及，根据所述深度效应响应模型生成系统响应模型。 | ||
| 地址 | 100049 北京市石景山区玉泉路19号乙院 | ||