多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构

摘要

本发明属集成电路领域，具体为一种针对多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构，包括被测单元，向量生成器，测试向量分配器，运算结果分发器，比较器，测试结果表，动态分配算法。其中被测单元为需要测试的处理单元；向量生成器生成、存储测试向量；测试向量分配器配置、建立或动态调整被测单元与向量生成器的连接关系；运算结果分发器配置、建立或动态调整被测单元与比较器的连接关系；比较器用于比较被测单元执行测试向量的结果并存入测试结果表；动态分配算法是系统为被测单元动态分配任务的算法。本发明有效解决了多运算单元/多核/众核系统测试困难的问题，并能有效提高芯片良率和可靠性。

主权项

一种针对多运算单元系统的自测试自修复结构，其特征在于包括被测单元，向量生成器，测试向量分配器，运算结果分发器，比较器，测试结果表，其中：被测单元为目标处理单元，是多运算单元系统中需要被测试的运算单元的部分或全部组成的集合；向量生成器，用于生成、存储或生成并存储自测试向量；测试向量分配器，包括测试向量分配控制器和物理连接，用于配置、建立或在自测试过程中动态调整被测试多运算单元系统中被测单元输入端口与向量生成器的连接关系；运算结果分发器，包括运算结果分发控制器和物理连接，用于配置、建立或在自测试过程中动态调整被测试多运算单元系统中被测单元输出端口与比较器之间的连接关系；比较器，用于比较被测单元执行自测试向量得到的结果，并根据比较结果来确定被测单元的正确性；测试结果表，用于存储被测单元的测试结果。