发明名称 | 存储器检测方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种存储器检测方法,在电子装置开机自我检测阶段,基本输入输出系统检测该电子装置当前使用的存储器的存储器类型,接着,将所检测到的存储器类型输出至基板管理控制器,此时,该基板管理控制器依据该存储器类型自预存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据,而据以判断该存储器工作是否异常,进而相应输出符合该存储器类型的事件信息。由此在正确识别存储器类型的前提下,相应地提供正确的判断基准,进而解决现有技术的种种缺失。 | ||
申请公布号 | CN102280142B | 申请公布日期 | 2013.11.20 |
申请号 | CN201010205575.9 | 申请日期 | 2010.06.10 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 余璘;何建华;陈志伟 |
分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
代理机构 | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人 | 程伟;靳强 |
主权项 | 一种存储器检测方法,应用于具有基本输入输出系统、基板管理控制器以及多个类型存储器的电子装置中,其特征在于,该存储器检测方法包括以下步骤:该基板管理控制器建立并储存多个存储器类型、以及对应各该存储器类型的多笔存储器状态数据;在该电子装置的开机自我检测阶段,该基本输入输出系统检测该电子装置当前使用的存储器的存储器类型;该基本输入输出系统将所检测到的存储器类型输出至该基板管理控制器;该基板管理控制器在接收到该基本输入输出系统所检测到的存储器类型后,依据该存储器类型自所储存的数据中提取对应该存储器类型的存储器状态数据;以及该基板管理控制器依据所提取的存储器状态数据,判断该存储器工作是否异常,而相应输出符合该存储器类型的事件信息。 | ||
地址 | 中国台湾台北市 |