发明名称 |
用于背照式图像传感器的抗反射层及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供了一种呈现改进的量子效率的图像传感器器件。例如,提供了一种背照式(BSI)图像传感器器件,包括:具有前表面和后表面的基板;设置在基板的前表面处的感光区;以及设置在基板的后表面上方的抗反射层。当在小于700nm的波长处进行测量时,抗反射层具有大于或等于约2.2的折射率以及小于或等于约0.05的消光系数。本发明还提供了用于背照式图像传感器的抗反射层及其制造方法。 |
申请公布号 |
CN102376724B |
申请公布日期 |
2013.11.20 |
申请号 |
CN201110218318.3 |
申请日期 |
2011.08.01 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
黄志辉;蔡正原;杜友伦;蔡嘉雄;杨敦年;刘人诚 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01)I;H01L21/205(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律师事务所 11306 |
代理人 |
陆鑫;高雪琴 |
主权项 |
一种背照式图像传感器器件,包括:基板,具有前表面和后表面;感光区,设置在所述基板的所述前表面处;以及抗反射层,设置在所述基板的所述后表面上方,其中,当在小于700nm的波长处进行测量时,所述抗反射层具有大于或等于2.2的折射率和小于或等于0.05的消光系数,以及,所述抗反射层为碳化硅SiC层,并且所述SiC层具有20%至30%的Si与C的比。 |
地址 |
中国台湾新竹 |