发明名称 一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置
摘要 单光束双工位大量程激光粒度测量装置,包括一用于发射激光的激光器1,激光器1的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜2、傅里叶透镜4、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列10,一样品窗6,所述傅里叶透镜4和光学组件之间设有第一工位12,所述光学组件和光电探测器阵列10之间设有第二工位9,所述样品窗6在所述第一工位12和第二工位9之间相对移动。本发明的有益效果为:采用折叠光路,可移动样品窗,实现了对样品的二次测试,扩大了仪器测量范围,光路长度缩短为原长的1/2。大大减小了仪器体积,提高了仪器测量精度,为激光粒度仪的广泛普及提供了一种全新最优化的结构。
申请公布号 CN103398926A 申请公布日期 2013.11.20
申请号 CN201310343638.0 申请日期 2013.08.08
申请人 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 发明人 任中京;陈栋章
分类号 G01N15/02(2006.01)I 主分类号 G01N15/02(2006.01)I
代理机构 山东众成仁和律师事务所 37229 代理人 牟迅
主权项 一种单光束双工位大量程激光粒度测量装置,包括一用于发射激光的激光器(1),激光器(1)的后端按照激光光路的前进方向依次设置有扩束镜(2)、傅里叶透镜(4)、用于改变激光光路方向的光学组件、光电探测器阵列(10),一样品窗(6),其特征在于,所述傅里叶透镜(4)和光学组件之间设有第一工位(12),所述光学组件和光电探测器阵列(10)之间设有第二工位(9),所述样品窗(6)在所述第一工位(12)和第二工位(9)之间相对移动。
地址 250000 山东省济南市高新区大学科技园北区F座东二单元