发明名称 Bestimmen eines Bestrahlungsplans mit möglichst kurzer Bestrahlungsdauer für eine Partikelbestrahlungsanlage
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung (10) zum Bestimmen eines Bestrahlungsplans für eine Partikelbestrahlungsanlage (20). Dabei wird mit der Partikelbestrahlungsanlage (20) abhängig von dem Bestrahlungsplan ein Zielvolumen (6) innerhalb eines Untersuchungsobjekts (14; 18) mit einem Teilchenstrahl (16) bestrahlt. Der Strahlungsplan wird bestimmt, um die Energie des Teilchenstrahls (16) gemäß einer vorbestimmten Dosisverteilung in dem Zielvolumen (6) zu applizieren, wobei das Zielvolumen (6) und die vorbestimmte Dosisverteilung vorgegeben sind. Eine Bestimmung des Bestrahlungsplans wird zusätzlich eine Bestrahlungsdauer berücksichtigt, wobei der Bestrahlungsplan derart bestimmt wird, dass die Bestrahlungsdauer möglichst kurz ist.</p>
申请公布号 DE102012208027(A1) 申请公布日期 2013.11.14
申请号 DE201210208027 申请日期 2012.05.14
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 ELSAESSER, THILO;GEMMEL, ALEXANDER;HANSMANN, THOMAS;RIETZEL, EIKE
分类号 A61N5/10 主分类号 A61N5/10
代理机构 代理人
主权项
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