一种集束连接器测试用转接器

摘要

本实用新型公开了一种集束连接器测试用转接器，包括SMA转接器，该测试用转接器还包括螺套、轴状基体和压板；所述基体安装在所述螺套的螺孔内，该基体沿轴向开设有若干个用于穿入所述SMA转接器的通孔，所述SMA转接器通过所述压板压紧在所述基体的通孔内。所述基体的通孔优选有五个，在基体的轴端上还设有五条凹槽，SMA转接器轴身上的轴肩防转平面卡入所述基体的凹槽内。所述SMA转接器为50Ω阻抗转接器。本实用新型测试用转接器的测试精度高，体积小，重量轻，结构简单，加工方便，相位一致性好，电性能优良，测试拆卸方便。

主权项

一种集束连接器测试用转接器，包括SMA转接器（1），其特征在于：该测试用转接器还包括螺套（2）、轴状基体（3）和压板（4）；所述基体（3）安装在所述螺套（2）的螺孔内，该基体（3）沿轴向开设有若干个用于穿入所述SMA转接器（1）的通孔（3－1），所述SMA转接器（1）通过所述压板（4）压紧在所述基体（3）的通孔（3－1）内。