发明名称 检测系统
摘要 本发明揭示一种用于检测产品的系统,该系统包括一扫描器,用以扫描该产品,并产生该产品的影像,该影像包括一像素矩阵,其每一者具有一灰阶值,及一分析装置,其电性耦合于该扫描器来接收与分析该产品的影像,该分析装置包括一微处理器,用以计算关联于该影像中每一像素的基准灰阶值,其中该基准灰阶值包括位在相邻于该每一像素之像素的该等灰阶值的平均值,一记忆体,用以储存关联于每一像素的基准灰阶值,与关联于该基准灰阶值的至少一临界值,及一比较模组,用以比较在该影像中每一像素的灰阶值与关联于该每一像素之至少一临界值。
申请公布号 TWI414780 申请公布日期 2013.11.11
申请号 TW099117186 申请日期 2010.05.28
申请人 郭上鲲 台北市文山区兴隆路4段195巷6号4楼 发明人 郭上鲲;蔡荣华
分类号 G01N21/88;G06K9/62 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人 吴磺庆 台北市松山区南京东路3段248号8楼之1
主权项
地址 台北市文山区兴隆路4段195巷6号4楼