发明名称 具有灰滤色镜之波前感测器及包含该感测器之微影装置
摘要 本发明提供一种用于量测一辐射光束之一相位分布及/或一投影系统之一光瞳分布的辐射分布量测系统,该辐射分布量测系统包括一透明载体板、组态于该透明载体板之一第一侧处之一格栅及/或一针孔及一在该透明载体板之一相反侧处之摄像机。该量测系统亦包括一在该透明载体板与该摄像机之间的辐射滤光镜,该辐射滤光镜具有一在该滤光镜之中心处最低且朝向该滤光镜之外部逐渐并同心地增加的透射率。藉由置放具有其特定透射率之该滤光镜,补偿了跨越波前感测器10之强度差(亦即,强度梯度)。使入射于该摄像机上之光之强度更均一,从而造成该量测系统之一改良效能。
申请公布号 TWI414767 申请公布日期 2013.11.11
申请号 TW096120816 申请日期 2007.06.08
申请人 ASML荷兰公司 荷兰 发明人 亚锐 乔翰 凡 德 席斯;海可 维特 寇可
分类号 G01M11/02;G03F7/20 主分类号 G01M11/02
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 荷兰