发明名称 制造具有蚀刻终止层之金属氧化物薄膜电晶体阵列的制程
摘要 本发明大致关于TFTs以及制造TFTs的方法。TFT的主动通道可包含一或多个选自由锌、镓、锡、铟以及镉所组成之群组的金属。主动通道亦包含氮与氧。为了在源极-汲极图案化期间保护主动通道,可在主动层上沉积蚀刻终止层。蚀刻终止层防止主动通道暴露在用于定义源极与汲极的电浆中。当湿蚀刻用于主动通道的主动材料层时,蚀刻终止层与源极与汲极可作为遮罩。
申请公布号 TWI415267 申请公布日期 2013.11.11
申请号 TW098109275 申请日期 2009.03.20
申请人 应用材料股份有限公司 美国 发明人 叶雁
分类号 H01L29/786;H01L21/3065;H01L21/336 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项
地址 美国