发明名称 |
用以形成自我对准金属矽化物接点的方法 |
摘要 |
所揭示的为一种用以在以一外露的介电区域而彼此分隔之至少二含矽半导体区域上方形成可自我对准之矽化金属接点的方法。较佳是,每一所形成之该些可自我对准之矽化金属接点包含至少矽化镍和矽化铂并具有一实质平坦的表面,且该外露的介电区域系实质不含金属和矽化金属。更佳是,所揭示方法包含以下步骤:镍或镍合金之沉积、低温硬化、镍蚀刻、高温硬化及王水蚀刻。 |
申请公布号 |
TWI415174 |
申请公布日期 |
2013.11.11 |
申请号 |
TW096115409 |
申请日期 |
2007.04.30 |
申请人 |
万国商业机器公司 美国 |
发明人 |
方顺菲;可那尔蓝道夫F;克里斯南曼哈德菲尔;拉瓦伊克里斯丁;莫蕾妮T;帕拉沙里哈蓝巴拉苏拔马尼安;史崔杰W |
分类号 |
H01L21/283;H01L21/3213 |
主分类号 |
H01L21/283 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 |
主权项 |
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地址 |
美国 |