发明名称 使用介电层封装装置之方法
摘要 本发明揭示一种封装具有一第一主要表面与一第二主要表面之一第一装置(14、46)的方法。在该第一装置(14、46)之一第二主要表面之上与该第一装置之侧周围形成一密封材料(18)。此使该第一装置之该第一主要表面曝露。在该第一装置(14)之该第一主要表面之上形成一第一介电层(20)。形成一侧接触介面(36、16;48、50、46;48、50、70、72),其在该第一介电层(20)之上具有至少一部分。切割该密封材料(18)以形成复数个密封材料之侧(62、64)。沿该复数个侧之一第一侧(64)移除该密封材料(18)之一部分以沿该复数个侧之该第一侧曝露该侧接触介面(72、46、16)之一部分。
申请公布号 TWI415240 申请公布日期 2013.11.11
申请号 TW096139517 申请日期 2007.10.22
申请人 飞思卡尔半导体公司 美国 发明人 马克A 曼格伦;肯尼斯R 布奇
分类号 H01L23/522;H01L23/485 主分类号 H01L23/522
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国