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Verfahren zur Beobachtung wenigstens einer Zustandsgröße (xi) eines schaltenden leistungselektronischen Umrichtersystems mit Halbleiterschaltern, unter Verwendung eines das System (1) beschreibenden Differenzialgleichungssystems in der Form eines Zustandsraummodells gemäß dx/dt = Ax(t) + Bu(t), wobei x(t) ein Vektor mit einer oder mehreren Zustandsgrößen (xi, xj), A die Systemmatrix, B die Steuermatrix und u(t) ein Vektor mit zumindest einer Eingangsgröße (ui, uj, uv) des Systems ist, und wobei zumindest eine der Zustandsgrößen (xj) multiplikativ mit einem veränderlichen Systemparameter (&rgr;(t), &rgr;Tp(t)) verknüpft ist, der in einem veränderlichen Matrixelement (aij(t)) einer bestimmten Zeile der Systemmatrix A enthalten ist, dadurch gekennzeichnet, dass zumindest eine der Eingangsgrößen (uj) einer Beobachtungseinrichtung (2) zugeführt wird, die die wenigstens eine zu beobachtende Zustandsgröße (xi) berechnet, wobei die Beobachtungseinrichtung (2) einen Beobachter (4) aufweist, der durch ein Zustandsraummodell des Systems (1) mit einer Ersatzsystemmatrix Ā gebildet ist, in der das veränderliche Matrixelement (aij(t)) zur Linearisierung des Zustandsraummodells durch ein konstantes Matrixelement (aij,neu) ersetzt ist, und wobei mindestens die mit dem veränderlichen Systemparameter (&rgr;(t), &rgr;Tp(t)) verknüpfte Zustandsgröße (xj) einem Korrekturglied (5) zugeführt wird, das die Zustandsgröße (xj) mit einem Korrekturterm (dij) multipliziert, der die Differenz (aij,neu – aij(t)) aus dem konstanten Matrixelement (aij,neu) und dem veränderlichen Matrixelement (aij(t)) enthält, und wobei die so korrigierte Zustandsgröße (xj) von einer Eingangsgröße (uj, uv) des Beobachters (4) subtrahiert wird, die auf die das konstante Matrixelement (aij,neu) enthaltende Zeile der Ersatzsystemmatrix Ā einwirkt, so dass das konstante Matrixelement (aij,neu) eliminiert und durch den aktuellen Wert des veränderlichen Matrixelements (aij(t)) ersetzt wird.
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