发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung ob eine Veränderung eines Substrats unter einer das Substrat bedeckenden Schicht vorliegt
摘要 Verfahren zur Bestimmung ob eine Veränderung eines Substrats (2) in einem Testbereich unter einer das Substrat (2) bedeckenden Schicht (1) vorliegt, wobei: a) in dem Testbereich, an einer Stelle des Substrats (2) auf oder beabstandet von der bedeckenden Schicht (1) mit mindestens zwei unterschiedlichen Messverfahren eine kombinierte magnetische und/oder elektrische Messung vorgenommen wird; und b) untersucht wird, ob eine Relation zwischen mit den unterschiedlichen Messverfahren in dem Testbereich ermittelten Messwerten (18, 19) mit einer in einem Referenzbereich festgestellten Referenzrelation übereinstimmt, wobei – die in dem Referenzbereich festgestellte Referenzrelation zwischen mit unterschiedlichen Messverfahren ermittelten Messwerten (18, 19) besteht, und – im Fall einer Abweichung der Relation von der Referenzrelation festgestellt wird, dass das Substrat (2) verändert wurde.
申请公布号 DE102008059032(B4) 申请公布日期 2013.11.07
申请号 DE20081059032 申请日期 2008.11.26
申请人 AUTOMATION DR. NIX GMBH & CO. KG 发明人 GEHNEN, GERRIT, DR.-ING.;FEIGE, VOLKER K.S., DR.
分类号 G01N27/72;G01B7/06;G01N27/90 主分类号 G01N27/72
代理机构 代理人
主权项
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