发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung ob eine Veränderung eines Substrats unter einer das Substrat bedeckenden Schicht vorliegt |
摘要 |
Verfahren zur Bestimmung ob eine Veränderung eines Substrats (2) in einem Testbereich unter einer das Substrat (2) bedeckenden Schicht (1) vorliegt, wobei: a) in dem Testbereich, an einer Stelle des Substrats (2) auf oder beabstandet von der bedeckenden Schicht (1) mit mindestens zwei unterschiedlichen Messverfahren eine kombinierte magnetische und/oder elektrische Messung vorgenommen wird; und b) untersucht wird, ob eine Relation zwischen mit den unterschiedlichen Messverfahren in dem Testbereich ermittelten Messwerten (18, 19) mit einer in einem Referenzbereich festgestellten Referenzrelation übereinstimmt, wobei – die in dem Referenzbereich festgestellte Referenzrelation zwischen mit unterschiedlichen Messverfahren ermittelten Messwerten (18, 19) besteht, und – im Fall einer Abweichung der Relation von der Referenzrelation festgestellt wird, dass das Substrat (2) verändert wurde.
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申请公布号 |
DE102008059032(B4) |
申请公布日期 |
2013.11.07 |
申请号 |
DE20081059032 |
申请日期 |
2008.11.26 |
申请人 |
AUTOMATION DR. NIX GMBH & CO. KG |
发明人 |
GEHNEN, GERRIT, DR.-ING.;FEIGE, VOLKER K.S., DR. |
分类号 |
G01N27/72;G01B7/06;G01N27/90 |
主分类号 |
G01N27/72 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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