一种低互调射频同轴开关测试矩阵

摘要

本实用新型公开了一种低互调射频同轴开关测试矩阵，包括一台单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关；本实用新型所设计的低互调射频同轴开关测试矩阵能够在不同频段下对无源被测器件进行互调测试，同时测试无源器件S参数，提高了产品的测试效率，具有很强的灵活性和可扩展性。

主权项

一种低互调射频同轴开关测试矩阵，其特征在于：包括一台单刀四掷式低互调射频同轴开关和三台单刀双掷式低互调射频同轴开关，其中：单刀四掷式低互调射频同轴开关的公共端口与第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口连接；第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端与第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第一测试端相连，第一单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端与第三单刀双掷式低互调射频同轴开关第一测试端相连；第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的公共端口共同连接无源被测器件（121）的测试端口；第二单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端和第三单刀双掷式低互调射频同轴开关的第二测试端分别连接矢量网络分析仪（120）的两个端口。