发明名称 |
长发光检测电路 |
摘要 |
本发明公开了一种长发光检测电路,用于通过ONU的发光状态信号检测ONU的长发光状态,所述长发光检测电路在一时钟信号的每个上升沿或下降沿开始采集所述发光状态信号并作为一长发光信号,在所述上升沿或下降沿至所述时钟信号中相对于所述上升沿或下降沿的下一个上升沿或下降沿的时间范围内,当所述发光状态信号的电平跳变时,所述长发光检测电路从所述发光状态信号的电平跳变时至所述时钟信号的下一个上升沿或下降沿的时间范围内,用所述发光状态信号的电平跳变时的电平填充所述长发光信号。本发明的长发光检测电路利用数字时序电路的方式来判断长发光。还通过与操作等来进一步地避免了时序电路中的错误逻辑的产生。 |
申请公布号 |
CN103384165A |
申请公布日期 |
2013.11.06 |
申请号 |
CN201210460782.8 |
申请日期 |
2012.11.15 |
申请人 |
上海斐讯数据通信技术有限公司 |
发明人 |
赵春和;文君;吴继新 |
分类号 |
H04B10/07(2013.01)I |
主分类号 |
H04B10/07(2013.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
胡美强;王聪 |
主权项 |
一种长发光检测电路,用于通过ONU的发光状态信号检测ONU的长发光状态,其特征在于,所述长发光检测电路在一时钟信号的每个上升沿或下降沿开始采集所述发光状态信号并作为一长发光信号,在所述上升沿或下降沿至所述时钟信号中相对于所述上升沿或下降沿的下一个上升沿或下降沿的时间范围内,当所述发光状态信号的电平跳变时,所述长发光检测电路从所述发光状态信号的电平跳变时至所述时钟信号的下一个上升沿或下降沿的时间范围内,用所述发光状态信号的电平跳变时的电平填充所述长发光信号。 |
地址 |
201617 上海市松江区石湖荡镇塔闵路579弄-26号 |