发明名称 |
半导体封装件及其制法 |
摘要 |
一种半导体封装件及其制法,该半导体封装件包括:一封装胶体、相互堆栈且埋设于该封装胶体中的多个半导体组件、形成于各该半导体组件上以电性导通各该半导体组件的导电层、以及形成于该封装胶体上以电性连接各该半导体组件的线路层。由于该些半导体组件所堆栈成的结构表面上布设有导电层,相比于使用焊线电性连接半导体组件的封装件,本发明无需考量焊线线弧(wireloop)的高度,所以可降低该封装胶体的高度,而利于封装件尺寸微小化的需求。 |
申请公布号 |
CN103383940A |
申请公布日期 |
2013.11.06 |
申请号 |
CN201210225426.8 |
申请日期 |
2012.06.29 |
申请人 |
矽品精密工业股份有限公司 |
发明人 |
蔡芳霖;刘正仁;江政嘉;施嘉凯;童世豪 |
分类号 |
H01L25/065(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L21/98(2006.01)I |
主分类号 |
H01L25/065(2006.01)I |
代理机构 |
北京戈程知识产权代理有限公司 11314 |
代理人 |
程伟;王锦阳 |
主权项 |
一种半导体封装件,其包括:封装胶体,其具有相对的第一表面与第二表面,且于该封装胶体的第一表面上形成有至少一开孔;多个第一半导体组件,其相互堆栈且封埋于该封装胶体中;导电层,其形成于该些第一半导体组件所堆栈成的结构表面,以电性导通各该第一半导体组件,且至少一该第一半导体组件上的部分导电层外露出该开孔;以及第一线路层,其形成于该封装胶体的第一表面上,以经该开孔电性连接该导电层。 |
地址 |
中国台湾台中市 |