发明名称 一种降低存储器读干扰的电路及方法
摘要 本发明公开了一种降低存储器读干扰的电路及方法。该电路包括全局字线、本地字线、存储块、存储子块、位线译码电路、高压切换电路和译码开关。该方法对字线采用两级译码技术,将传统存储块划分成块和子块,在编程和擦除时,存储器对整个块进行编程和擦除操作;在读取时,存储器仅对选中的子块进行读取操作,存储器在读取操作时,读取电压仅加载在选中子块的字线上,而未选中子块的字线电压为零,这样就能使读取操作带来的干扰降低到最小,提高存储数据的保持特性。利用本发明,可使存储器在存储密度不变的情况下,数倍的增加数据保持特性,提高存储器的可靠性;或者在数据保持特性不变的情况下,提高存储器的存储密度,降低单比特存储容量的成本。
申请公布号 CN102237131B 申请公布日期 2013.11.06
申请号 CN201010162241.8 申请日期 2010.04.28
申请人 中国科学院微电子研究所 发明人 王琴;柳江;刘明
分类号 G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G11C16/06(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种降低存储器读干扰的电路,其特征在于,该电路包括:全局字线(101),该全局字线(101)是在一个存储块中连接所有存储子块的导线,该导线通过译码开关(107)与所有本地字线(102)相连接;本地字线(102),该本地字线(102)是在一个存储子块中,与同一行所有存储单元的栅端相连接的导线;存储块(103),该存储块(103)是在存储器中根据编程干扰特性来划分的一定容量的存储阵列;存储子块(104),该存储子块(104)是对存储块(103)进行划分得到的一定容量的存储阵列;位线译码电路(105);高压切换电路(106);以及译码开关(107),由高压PMOS(401)和高压NMOS(402)构成;其中,所述存储块(103)中,同一列上所有存储单元的漏端或源端都直接连接到同一根位线上;同一行上所有存储单元的栅端通过译码开关(107)连接到同一根全局字线上;所述存储子块(104)中,同一列上所有存储单元的漏端或源端都直接连接到同一根位线上,同一行上所有存储单元的栅端直接连接到同一根本地字线上,且存储子块(104)与存储子块(104)之间必须通过译码开关(107)和全局字线(101)才能相连通;所述高压PMOS(401)的源端与全局字线(101)相连接,漏端与本地字线(102)相连接,栅端与译码控制信号C1(403)相连接,衬底与衬底控制信号C2(404)相连接;所述高压NMOS(402)的漏端与全局字线相连接,源端与本地字线相连接,栅端接地电位,衬底与衬底控制信号C3(405)相连接。
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