发明名称 一种用于超高真空测试的送样装置
摘要 本发明公开了一种用于超高真空测试的送样装置,涉及真空测试技术,包括真空罐、样品座、样品固定销钉、送样杆、样品连接杆、连接螺钉、样品连接头、插板阀;真空罐主体轴向一端为观察窗,径向有垂直腔、水平腔,水平腔中部有插板阀;插板阀左侧为超高真空区,右侧为低真空区,两真空区有抽气装置;待测样品由样品固定销钉固定在样品座上表面,连接螺钉将左侧的样品连接杆与样品连接头可分开的固接,样品座与样品连接头固接,位于真空腔内;样品连接杆、样品连接头、样品座、送样杆成一字水平设置,共轴线。本发明的用于超高真空测试的送样装置,结构简单,易于制造,送样可靠,可应用于各种真空测试与分析设备。
申请公布号 CN102809661B 申请公布日期 2013.11.06
申请号 CN201110141894.2 申请日期 2011.05.30
申请人 中国科学院电子学研究所 发明人 徐长有;赵世柯;邓峰
分类号 G01N35/10(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I 主分类号 G01N35/10(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 周国城
主权项 一种用于超高真空测试的送样装置,包括真空罐、样品座、送样杆;样品连接杆、样品连接头和插板阀;真空罐主体轴向一端为观察窗,径向有两个柱状凸起腔,一垂直向上,另一水平侧向延伸;水平腔中部有插板阀;插板阀左侧的真空罐主体、垂直腔、水平腔的左半部为超高真空区,插板阀右侧水平腔的右半部为低真空区,超高真空区和低真空区均有抽气装置,与水平腔密封盘中心通孔水平相对的真空罐主体侧壁上设有通孔;其特征在于:该送样装置还包括样品固定销钉、连接螺钉;隔离高真空区和低真空区的阀门为门阀;垂直腔顶端中心密封穿设有测试探头,测试探头向下;水平腔外端有密封盘密封;真空罐主体侧壁上的通孔与水平腔密封盘中心通孔水平相对,送样杆密封连接在密封盘中心通孔内;样品座上表面设有样品放置孔,样品放置孔两侧不对称的各正交设置一贯通的螺孔,两螺孔位于样品座两侧面,每一螺孔内有一样品固定销钉,待测样品置于样品放置孔内,以两样品固定销钉可拆卸的固接于样品座;真空罐主体侧壁通孔内密封连接样品连接杆,送样杆内端连接样品座右侧,样品连接杆内端连接样品连接头左侧;样品座与样品连接头相对侧面固接;送样杆、样品座、样品连接头、样品连接杆呈水平连接,共轴线。
地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号