发明名称 半导体装置及其制备方法
摘要 本发明公开了一种半导体装置及其制备方法,该半导体装置包含一基材、一绝缘层、一非掺杂硅层,以及一硅材料。基材包含一掺杂区。绝缘层形成于基材上。绝缘层可包含与掺杂区对应的一接点孔。非掺杂硅层形成于掺杂区上。硅材料从非掺杂硅层开始填充接点孔。本发明的半导体装置因包含非掺杂硅层,故可避免掺杂扩散到源/漏极区及降低电荷漏失。
申请公布号 CN103383955A 申请公布日期 2013.11.06
申请号 CN201310152690.8 申请日期 2013.04.27
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 陈怡荣;苏国辉;林江宏
分类号 H01L29/45(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/45(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 赵根喜;吕俊清
主权项 一种半导体装置,包含:一基材,包含一掺杂区;一绝缘层,形成于该基材,该绝缘层包含与该掺杂区对应的一接点孔;一非掺杂硅层,形成于该掺杂区上;以及一硅材料,从该非掺杂硅层填充该接点孔。
地址 中国台湾桃园县