发明名称 测量自动生产线中透明物体厚度的方法和设备
摘要 测量透明物体(30)的壁(35)厚度。装置(100)包括光源(1)和用于聚焦光源的装置(10)。辐射被引导朝向壁(35),并且由第一辐射(6)和第二辐射(9)构成的收集辐射(15)具有不同的强度,不同的强度被配置为获得干涉,这允许确定壁(35)的厚度。用于聚焦的装置包括透镜装置(10),其具有两个彼此正交的主子午线(10a、10b),使得入射光辐射(5)被聚焦在第一子午线平面(10a)中的第一虚焦点(F1),并且聚焦在第二子午线平面(10b)中的第二虚焦点(F2)。这允许测量相对于物体(30)的波动和振动具有显著的可靠性和鲁棒性。
申请公布号 CN103384813A 申请公布日期 2013.11.06
申请号 CN201280010484.7 申请日期 2012.02.28
申请人 格雷斯海姆比萨公司 发明人 L·P·D·弗劳伦蒂尼
分类号 G01B11/06(2006.01)I 主分类号 G01B11/06(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 赵蓉民
主权项 一种用于测量透明物体(30),特别是弯曲物体,的壁(35)的厚度的方法,所述壁(35)包括:透明材料(35a);布置在外部环境((33)和所述透明材料(35a)之间的近端界面(31);以及与所述近端界面(31)相对的、布置在所述透明材料(35a)和所述环境(33)之间的远端界面(32),所述方法提供以下步骤:——预先布置起始光辐射(2);——聚焦(10、11、22、23)所述起始光辐射(2),从而获得指向所述壁(35)的入射光辐射(5),使得所述入射光辐射(5):——撞击所述壁(35)的所述近端界面(31),——部分由所述近端界面(31)反射,以便产生第一反射辐射(6),——部分穿过所述透明材料(35a),撞击在所述远端界面(32)上,并且部分从所述远端界面(32)反射(8),——在所述远端界面(32)反射后,部分在相反方向上穿过所述透明材料(35a),再次撞击所述近端界面(31)上并且穿过它,以便产生第二反射辐射(9);——收集(40)由所述第一反射辐射(6)和第二反射辐射(9)叠加的整个出射光辐射(15);——用光谱法分析(50)所述出射光辐射(15),以便根据在所述出射光辐射(15)中的所述第一反射光辐射(6)和第二反射光辐射(9)之间的干涉特性确定所述壁(35)的厚度,其特征在于,所述聚焦(10)的步骤通过具有两个主子午线平面(10a、10b)的非轴对称透镜装置(10、11、22、33)获得所述入射光辐射(5),使得所述入射光辐射(5)聚焦在第一主子午线平面(10a)中的第一虚焦点(F1)上,以及聚焦在第二主子午线平面(10b)中的第二虚焦点(F2)上。
地址 意大利比萨