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发明名称
单结晶矽晶圆的精加工研磨方法及单结晶矽晶圆
摘要
本发明是提供一种单结晶矽晶圆的精加工研磨方法、及依照该方法精加工研磨而成之单结晶矽晶圆,该单结晶矽晶圆的精加工研磨方法,是针对使研磨浆体介于单结晶矽晶圆与研磨布之间,并对上述单结晶矽晶圆进行研磨之复数阶段的研磨制程之中,在最后阶段之精加工研磨制程,其中使研磨速度为10奈米/分钟以下来进行精加工研磨。藉此,可提供一种能够得到PID(抛光导入缺陷;Polishing Induced Defect)少的单结晶矽晶圆之精加工研磨方法、及依照该方法精加工研磨而成之单结晶矽晶圆。
申请公布号
TWI414012
申请公布日期
2013.11.01
申请号
TW097104274
申请日期
2008.02.04
申请人
信越半导体股份有限公司 日本
发明人
饭塚直人;栗本宏高;小坂浩一;丸山文明
分类号
H01L21/304
主分类号
H01L21/304
代理机构
代理人
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项
地址
日本
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