发明名称 Hochtemperaturtaugliches Multilayer-Kontaktsystem
摘要 Multilayer-Kontaktsystem für Halbleiterbauelemente, bei dem auf ein Sillizium-Karbid (SiC) Halbleitersubstrat a) zunächst eine Kontaktmetallisierung abgeschieden ist, b) auf die Kontaktmetallisierung eine Barriereschicht zur Verhinderung von Interdiffusionsvorgängen abgeschieden ist, c) auf die Barriereschicht eine Bondmetallisierung abgeschieden ist und die Bondmetallisierung mit einem Bondpad ausgeformt ist und d) eine Schutzmetallisierung aus einem Verbundmaterial aus Chrom und Edelmetall oder aus einer Chrom-Edelmetall-Legierung abgeschieden ist, wobei die Barriereschicht aus einem dreilagigen Schichtaufbau mit zwei äußeren Lagen Chrom und einer mittleren Lage aus Molybdän oder Wolfram (CrMoCr, CrWCr) besteht.
申请公布号 DE10062399(B4) 申请公布日期 2013.10.31
申请号 DE2000162399 申请日期 2000.12.14
申请人 CREE, INC. 发明人 FREYTAG, JUERGEN, DR.;GETTO, RALF, DIPL.-PHYS.;OECHSNER, HANS, PROF. DR.
分类号 H01L23/50;H01L23/485;H01L23/522 主分类号 H01L23/50
代理机构 代理人
主权项
地址