发明名称 |
一种光栅对位拼接方法 |
摘要 |
一种光栅对位拼接方法,属于光学领域,本发明为解决现有借助凹光栅对两个柱透镜光栅进行接接的方法误差大的问题。本发明所述一种光栅对位拼接方法,该方法为:将待拼接的n片光栅共同放置在测试条形图上,以其中一片光栅作为基准光栅,所述测试条形图在所述基准光栅上形成基准干涉条纹,分别移动及旋转其它n-1片待拼接的光栅,使得测试条形图在其它n-1片待拼接光栅上形成拼接干涉条纹,当所有拼接干涉条纹均与基准干涉条纹的粗细一致,且所有拼接干涉条纹的延长线与对应位置的基准干涉条纹的延长线在同一直线上时,完成n片光栅的对位拼接,本发明用于多个光栅的拼接。 |
申请公布号 |
CN102540305B |
申请公布日期 |
2013.10.30 |
申请号 |
CN201210084513.6 |
申请日期 |
2012.03.27 |
申请人 |
宁波维真显示科技有限公司 |
发明人 |
魏厚伟;高洪跃 |
分类号 |
G02B5/18(2006.01)I |
主分类号 |
G02B5/18(2006.01)I |
代理机构 |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人 |
张果瑞 |
主权项 |
一种光栅对位拼接方法,其特征在于,该方法为:将待拼接的n片光栅共同放置在测试条形图上,以其中一片光栅作为基准光栅,所述测试条形图在所述基准光栅上形成基准干涉条纹,分别移动及旋转其它n‑1片待拼接的光栅,使得测试条形图在其它n‑1片待拼接光栅上形成拼接干涉条纹,当所有拼接干涉条纹均与基准干涉条纹的粗细一致,且所有拼接干涉条纹的延长线与对应位置的基准干涉条纹的延长线在同一直线上时,完成n片光栅的对位拼接,其中,n为大于或等于2的自然数。 |
地址 |
315000 浙江省宁波市鄞州区启明路655弄77号 |