发明名称 |
一种RCS测试背景对消系统及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种RCS测试背景对消系统及方法,其能够降低背景RCS,实现更高精度的目标物体RCS测试。所述对消系统包括信号发射单元、信号接收处理单元以及对消体;所述信号发射单元包括发射电路和发射天线,所述发射电路用于产生测试信号,所述发射天线用于发射发射电路产生的测试信号;所述信号接收处理单元用于接收测试信号的散射信号,并处理散射信号显示测得的RCS;所述对消体位于所述发射天线的副瓣方向,用于消除背景RCS。其通过对RCS测试对消测试系统进行改进,通过设置辅助的对消体,对消降低背景散射信号对RCS测试的影响,实现目标物体RCS的高精度测试。 |
申请公布号 |
CN103376446A |
申请公布日期 |
2013.10.30 |
申请号 |
CN201310285450.5 |
申请日期 |
2013.07.09 |
申请人 |
电子科技大学 |
发明人 |
金龙;田忠;温海涛;宋世明 |
分类号 |
G01S7/41(2006.01)I |
主分类号 |
G01S7/41(2006.01)I |
代理机构 |
成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 |
代理人 |
周永宏 |
主权项 |
一种RCS测试背景对消系统,其特征在于,包括信号发射单元、信号接收处理单元以及对消体;所述信号发射单元包括发射电路和发射天线,所述发射电路用于产生测试信号,所述发射天线用于向背景环境发射发射电路产生的测试信号;所述信号接收处理单元包括接收天线和信号处理电路,所述接收天线用于接收测试信号的散射信号,所述信号处理电路用于处理接收天线接收到的散射信号并显示测得的RCS;所述对消体位于所述发射天线的副瓣方向,用于消除背景RCS。 |
地址 |
611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 |