一种量子效应光电探测器微光测试系统

摘要

本实用新型公开了一种量子效应光电探测器微光测试系统，其特点是该微光测试系统由测试光路、转接器、时序测试板和示波器组成，所述转接器为设有测试基座和插针座的转接底座与设有透光窗、输出端口、制冷管口和排气阀的转接腔体固定连接的密闭装置；转接器由输出端口与时序测试板连接，时序测试板与示波器连接，测试光路由透光窗的光孔进入转接器内对测试对象进行性能测试。本实用新型与现有技术相比具有测试方便，整个测试过程没有连线焊接步骤，防止误操作和减少静电对器件的伤害，减少信号延迟和寄生参数引起的信号损失，进一步降低封装噪声、封装失效和制造成本，有利于新型光电探测器的广泛应用。

主权项

一种量子效应光电探测器微光测试系统，其特征在于该微光测试系统由测试光路（1）、测试转接器（2）、时序测试板（3）和示波器（4）组成，所述测试转接器（2）为设有测试基座（27）和插针座（28）的转接底座（22）与设有透光窗（26）、输出端口（25）、制冷管口（24）和排气阀（23）的转接腔体（21）固定连接的密闭装置；所述插针座（28）为两列且分别设置在测试基座（27）两侧，两列插针座（28）由引线与两输出端口（25）电性连接；测试转接器（2）由两输出端口（25）与时序测试板（3）连接，时序测试板（3）与示波器（4）连接，测试光路（1）产生的测试光由透光窗（26）的光孔进入测试转接器（2），对设置在对其内的测试对象进行性能测试。