发明名称 |
用于真空电子器件的强流电子注能散测量系统及测量方法 |
摘要 |
本发明公开了一种强流电子注能散测量系统,包括真空腔体、二极铁电磁体、双狭缝铜体、YAG探测器和CCD图像采集器。真空腔体是扁平的且横截面呈矩形,其纵向与水平面平行;二极铁电磁体的两极分别安装在真空腔体的上下两面,以在真空腔体内产生垂直于水平面的均匀磁场;双狭缝铜体安装在真空腔体的内部,用于将强流电子注变成弱流电子注,并准直进入真空腔体;电子YAG探测器位于双狭缝铜体出射的电子注流偏转90度的方向上,用于探测电子注空间密度分布;CCD图像采集器用于捕捉YAG探测器上生成的电子能散图像。本发明可以测量几百至100k电子伏能量、导流系数在0.1至十几微朴的强流电子注的能散相对分辨率与能散曲线。 |
申请公布号 |
CN103377864A |
申请公布日期 |
2013.10.30 |
申请号 |
CN201210132372.0 |
申请日期 |
2012.04.28 |
申请人 |
中国科学院电子学研究所 |
发明人 |
阮存军;吴迅雷;李庆生;李崇山;李彦峰 |
分类号 |
H01J37/244(2006.01)I |
主分类号 |
H01J37/244(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种强流电子注能散测量系统,其特征在于,包括一个真空腔体(101)、一个二极铁电磁体(201)、一个双狭缝铜体(301)、一个YAG探测器(401)和一个CCD图像采集器(501);所述真空腔体(101)是一个扁平的且横截面呈矩形的真空腔体,其纵向与水平面平行,且由无磁金属材料制成,内部真空度为1×10‑6Pa数量级;所述二极铁电磁体(201)的两极分别安装在所述真空腔体(101)的上下两面,以在所述真空腔体(101)内产生垂直于水平面的均匀磁场;所述双狭缝铜体(301)安装在所述真空腔体(101)的内部,由无氧铜制成,用于将强流电子注变成弱流电子注,并准直进入真空腔体(101);所述电子YAG探测器(401)位于所述双狭缝铜体(301)出射的电子注流偏转90度的方向上,其由掺入Ce元素的晶体制成,用于探测电子注空间密度分布;所述CCD图像采集器(501)位于正对着YAG探测器(401)的随动平台(9)上,用于捕捉YAG探测器(401)上生成的电子能散图像。 |
地址 |
100080 北京市海淀区北四环西路19号 |