发明名称 光学测定装置
摘要 本发明提供一种使用光学测定方法,通过有效读取试剂反应后的显色状态而进行检查的光学测定装置。本发明的光学测定装置填装有1个以上的试验器具,该试验器具包括具有1个以上的保持试剂的试剂保持部的载体,并且该载体适用于检体,该光学测定装置在填装有1个以上的试验器具的状态下,包括:读取上述试剂保持部的显色状态的读取单元;和进行上述读取单元的驱动控制和检查处理的控制单元,上述控制单元在填装上述试验器具开始到经过对应于上述试剂的反应完成时间Tr1~Tr6后,使用通过读取处理P读取上述试剂的显色状态而得到的数据进行检查处理。
申请公布号 CN101790685B 申请公布日期 2013.10.30
申请号 CN200880008007.0 申请日期 2008.11.20
申请人 爱科来株式会社 发明人 中川贵司;中嶋真也;笠井督夫;大宫一纮
分类号 G01N33/543(2006.01)I;G01N21/03(2006.01)I;G01N21/77(2006.01)I;G01N21/78(2006.01)I;G01N35/00(2006.01)I;G01N35/02(2006.01)I 主分类号 G01N33/543(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 黄纶伟
主权项 一种光学测定装置,其特征在于:其填装有1个以上的试验器具,该试验器具包括具有1个以上的保持试剂的试剂保持部的载体,并且检体适用于该载体,该光学测定装置在填装有1个以上的试验器具的状态下,包括:检测填装所述试验器具的状态的传感器;读取所述试剂保持部的显色状态和试验器具的检测项目信息的读取单元;和进行所述读取单元的驱动控制和检查处理的控制单元,所述控制单元对所述试验器具设定与该试验器具的检测项目信息对应的反应完成时间,在通过所述传感器检测确定的所述试验器具的填装时刻开始,经过了与所述检测项目信息对应的反应完成时间后,使用通过读取所述试剂的显色状态而得到的数据进行检查处理。
地址 日本京都府