发明名称 |
高精度单沿捕获以及延迟测量电路 |
摘要 |
本发明提供了高精度单沿捕获以及延迟测量电路。提供在两个信号之间的延迟的片上测量的方法和电路包括第一和第二延迟链(241、242),所述第一和第二延迟链有被连接到取样锁存器(222-227)的不同延迟值,每个取样锁存器包括耦合于所述第一延迟链的相邻延迟元件之间的数据输入和耦合于所述第二延迟链的相邻延迟元件之间的时钟输入,因此捕获了信号的高精度延迟测量。 |
申请公布号 |
CN103378826A |
申请公布日期 |
2013.10.30 |
申请号 |
CN201310125303.1 |
申请日期 |
2013.04.11 |
申请人 |
飞思卡尔半导体公司 |
发明人 |
曹立朋;卡罗尔·G·派伦;肯尼斯·R·伯奇;拉蒙·V·恩里克斯 |
分类号 |
H03K5/14(2006.01)I |
主分类号 |
H03K5/14(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
李宝泉;周亚荣 |
主权项 |
一种电路,包括:延迟元件的第一链,所述第一链被连接以从片上电路组件接收第一信号,其中所述第一链中的每个延迟元件有第一延迟值;延迟元件的第二链,所述第二链被连接以接收参考时钟信号,其中所述第二链中的每个延迟元件有不同于所述第一延迟值的第二延迟值;以及多个取样锁存器,所述多个取样锁存器被连接在所述第一和第二链之间,每个取样锁存器有耦合于所述第一链的相邻延迟元件之间的数据输入和耦合于所述第二链的相邻延迟元件之间的时钟输入,以便当相对于所述参考时钟信号的沿变化发生在所述电路的预定的测量窗口中的时侯,在所述第一信号中的所述沿变化通过存储在所述多个取样锁存器中的数字值被表示。 |
地址 |
美国得克萨斯 |