| 发明名称 | 物品缺陷检测系统与方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种物品缺陷检测系统(100)，包含有一个大体上位于物品(102)侧面的光源(101)，用来投射光线以照亮部分物品(102)；一个用来支撑物品(102)的平台(103)；一个光传感器(105)；以及一个布置在光源(101)和物品(102)之间，以一定角度向光源(101)倾斜的反射装置(104)，用来接收从物品被照亮部分反射出的光图像，并将光图像投射到光传感器(105)上；在那里，光传感器(105)将反射过来的光图像记录下来，并将光图像转换成数据，以供缺陷分析之用。本发明能够有效检测物品表面和内部的缺陷。 | ||
| 申请公布号 | CN103376265A | 申请公布日期 | 2013.10.30 |
| 申请号 | CN201310128183.0 | 申请日期 | 2013.04.15 |
| 申请人 | 伟特集团 | 发明人 | 李建惠 |
| 分类号 | G01N21/958(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/958(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人 | 张静洁;张妍 |
| 主权项 | 一种物品缺陷检测系统(100)，其特征在于，包含有 一个大体上位于物品(102)侧面的光源(101)，用来投射光线以照亮部分物品(102)； 一个用来支撑物品(102)的平台(103)； 一个光传感器(105)；以及 一个布置在光源(101)和物品(102)之间，以一定角度向光源(101)倾斜的反射装置(104)，用来接收从物品被照亮部分反射出的光图像，并将光图像投射到光传感器(105)上；在那里，光传感器(105)将反射过来的光图像记录下来，并将光图像转换成数字数据，以供缺陷分析之用。 | ||
| 地址 | 马来西亚槟城峇六拜11900峇六拜工业园4期峇六拜林堂11号85-A室 | ||