发明名称 |
热分析装置 |
摘要 |
在热分析装置中,在设置测定试样的观察用窗的情况下,由于来自该观察窗部的热的出入产生的影响,测定精度受到影响。为此,用透明构件将观察用窗做成叠层构造,而且在该叠层间设置间隙层,使热难以出入。此外,通过在该间隙层采用隔热性高的气体或固体,进一步提高该观察窗的隔热性。由此,可以一边肉眼观察热分析装置中的测定试样的加热等产生的变化,一边得到更加高精度的热变化或物理变化。 |
申请公布号 |
CN102004117B |
申请公布日期 |
2013.10.30 |
申请号 |
CN201010287191.6 |
申请日期 |
2010.09.01 |
申请人 |
精工电子纳米科技有限公司 |
发明人 |
山田健太郎 |
分类号 |
G01N25/20(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I;G01K1/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01N25/20(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
何欣亭;徐予红 |
主权项 |
一种热分析装置,其特征在于,包括:加热炉,具有容纳测定试样的第一容纳部;检测部,在所述加热炉内承载试样的状态下,测定当升降所述加热炉的温度时产生于测定试样的物理量;试样摄像单元,对承载于所述加热炉内的试样像进行摄像;热分析数据收集单元,收集通过记录所述物理量之中热量的变化来得到的热分析的数据;图像数据收集单元,收集图像数据,所述图像数据是与所述热量的变化同时通过所述试样摄像单元对试样像进行摄像而得到的图像数据;以及热物理性质剖析显示单元,将所述热分析数据收集单元中收集的热分析数据及图像数据收集单元中收集的图像数据,作为试样的热物理性质剖析用的信息加以记录或者显示,在所述热分析装置中,将可以确认所述测定试样的范围的所述加热炉的壁部中至少一部分用透明体形成,该透明体是至少双层以上的叠层构造,该叠层间为隔热层。 |
地址 |
日本千叶县千叶市 |