发明名称 一种线偏振光磁光效应检测方法及其装置
摘要 本发明的提供了一种线偏振光经过磁光调制后偏振光稳定性、磁光调制深度、磁光调制角幅度的快速检测方法,还提供了一种能够实现上述三种检测方法的检测装置,解决了现有技术存在的技术问题。本发明的检测装置包括在入射光路上依次设置的通光孔、偏振棱镜、聚光透镜以及光电探测器和用以带动偏振棱镜水平旋转的旋转机构;所述旋转机构上设置有用以测试偏振棱镜水平旋转角度的测角码盘。本发明检测方法操作简便、避免了测试环境对检测精度的不利影响;本发明检测装置结构简明、稳定性较好,测试精度较高。
申请公布号 CN102359865B 申请公布日期 2013.10.30
申请号 CN201110235971.0 申请日期 2011.08.17
申请人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明人 王卫峰;李鹏;徐峰;陆卫国;姚挺
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 徐平
主权项 一种线偏振光磁光效应检测方法,包括以下步骤:1)设置偏振棱镜,使被检线偏振光入射至偏振棱镜通光孔并出射至光电探测器;2)调节偏振棱镜,使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴在与偏振光入射方向垂直的平面内成90°夹角,记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内a位置;3)水平转动偏振棱镜90°,再根据光电探测器的输出信号,水平微调偏振棱镜,使偏振棱镜的透光轴与被检线偏振光的光轴成0°或180°夹角,记此时偏振棱镜的透光轴位于所述平面内b位置,并记录此时的角度值;4)多次操作步骤2)和3);5)根据多组所述测量角度值,统计计算得出被检线偏振光光轴的稳定度;其中,步骤3)得出与b位置相对应的角度值为xi;步骤4)重复操作n次步骤2)和3);步骤5)所述统计计算是根据以下公式 <mrow> <mi>&delta;</mi> <mo>=</mo> <msqrt> <mfrac> <mrow> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>x</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>-</mo> <mover> <mi>x</mi> <mo>&OverBar;</mo> </mover> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> </mrow> <mrow> <mi>n</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </mfrac> </msqrt> </mrow>计算得到被检线偏振光光轴的稳定度δ。
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