发明名称 |
基于光频梳校准的双色激光扫描绝对距离测量装置和方法 |
摘要 |
一种基于光频梳校准的双色激光扫描绝对距离测量装置和方法,装置包括激光光源系统、保偏光纤系统、迈克尔逊干涉系统和激光频率标定系统,控制激光光源系统中的两台可调谐激光器同时连续无跳模地调节输出光频率,激光频率标定系统同时记录迈克尔逊干涉系统的干涉信号和可调谐激光器与光频梳的拍频信号;根据采集数据,计算激光器的扫频范围及在扫描过程中干涉信号的相位变化周期整数和周期小数,最后计算得到待测光路反射面的绝对距离,本发明具有系统结构简单、测量精度高、补偿空气折射率影响、测量结果可溯源等优点,可以适用于空间绝对距离测量领域。 |
申请公布号 |
CN103364775A |
申请公布日期 |
2013.10.23 |
申请号 |
CN201310256375.X |
申请日期 |
2013.06.25 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
杨宏雷;李岩;吴学健;任利兵;张弘元;尉昊赟 |
分类号 |
G01S11/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01S11/12(2006.01)I |
代理机构 |
西安智大知识产权代理事务所 61215 |
代理人 |
贾玉健 |
主权项 |
一种基于光频梳校准的双色激光扫描绝对距离测量装置,其特征在于,包括:用于输出单一线偏振的飞秒激光脉冲以及两路单一频率、单一线偏振激光的激光光源系统(1);用于保持激光光源系统(1)的输出光偏振态不变,并分别传输至迈克尔逊干涉系统(3)和激光频率标定系统(4)的保偏光纤系统(2);用于将待测绝对距离转化为干涉信号强度的变化的迈克尔逊干涉系统(3);以及,用于控制激光光源系统(1)输出激光的波长扫描,并根据波长扫描时激光频率变化量及干涉信号的周期整数和周期小数的变化量,进而计算出绝对距离量的激光频率标定系统(4)。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |