发明名称 一种珩磨机用测量系统及测量方法
摘要 本发明属于珩磨机实用技术领域,公开了一种珩磨机用测量系统及测量方法,主要由靶标、激光扫描系统、视觉处理子系统、控制子系统和机械装置组成;本发明精度高,具有主动性,实时快速,工艺简单,机械部分仅由实现两个自由度的电机和固定摄像头、激光测距仪的安装支架组成,加工、安装方便。而且本发明还具有体积小重量轻的特点,可以很容易集成到其他系统中,作为一种功能单元存在,此外,本本发明操作简单,准确率高,有着很好的实际应用价值。
申请公布号 CN103358230A 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201310057171.3 申请日期 2013.02.22
申请人 南京工业大学 发明人 张广明;陈玉明;孙冬梅;袁宇浩
分类号 B24B49/02(2006.01)I 主分类号 B24B49/02(2006.01)I
代理机构 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 代理人 何自刚
主权项 一种珩磨机用测量系统,其特征在于,所述珩磨机用测量系统包括:靶标,用于发送收集图像的指令;激光扫描系统,与所述靶标连接,用于对目标进行深度的测量;视觉处理子系统,与所述激光扫描系统连接,用于拍照和对图像的指令进行处理;控制子系统,与所述视觉子系统连接,用于对系统的各个设备进行控制;机械装置,与所述靶标、视觉处理子系统和控制子系统连接,用于对靶标、视觉处理子系统和控制子系统固定。
地址 210000 江苏省南京市鼓楼区中山北路200-2号10幢三单元102室