发明名称 |
一种珩磨机用测量系统及测量方法 |
摘要 |
本发明属于珩磨机实用技术领域,公开了一种珩磨机用测量系统及测量方法,主要由靶标、激光扫描系统、视觉处理子系统、控制子系统和机械装置组成;本发明精度高,具有主动性,实时快速,工艺简单,机械部分仅由实现两个自由度的电机和固定摄像头、激光测距仪的安装支架组成,加工、安装方便。而且本发明还具有体积小重量轻的特点,可以很容易集成到其他系统中,作为一种功能单元存在,此外,本本发明操作简单,准确率高,有着很好的实际应用价值。 |
申请公布号 |
CN103358230A |
申请公布日期 |
2013.10.23 |
申请号 |
CN201310057171.3 |
申请日期 |
2013.02.22 |
申请人 |
南京工业大学 |
发明人 |
张广明;陈玉明;孙冬梅;袁宇浩 |
分类号 |
B24B49/02(2006.01)I |
主分类号 |
B24B49/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 |
代理人 |
何自刚 |
主权项 |
一种珩磨机用测量系统,其特征在于,所述珩磨机用测量系统包括:靶标,用于发送收集图像的指令;激光扫描系统,与所述靶标连接,用于对目标进行深度的测量;视觉处理子系统,与所述激光扫描系统连接,用于拍照和对图像的指令进行处理;控制子系统,与所述视觉子系统连接,用于对系统的各个设备进行控制;机械装置,与所述靶标、视觉处理子系统和控制子系统连接,用于对靶标、视觉处理子系统和控制子系统固定。 |
地址 |
210000 江苏省南京市鼓楼区中山北路200-2号10幢三单元102室 |