| 发明名称 | 一种NAND闪存芯片及其棋盘格检查时的芯片编程方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种NAND闪存芯片及其棋盘格检查时的芯片编程方法；NAND闪存芯片包括：主阵列、控制模块；内置样本生成器；所述控制模块用于当要进行棋盘格检查时，指示所述内置样本生成器生成进行芯片编程所需的序列；待所述内置样本生成器生成序列后，发起编程执行命令，将所述序列从所述内置样本生成器传送到所述主阵列中进行编程。本发明能提高NAND Flash的测试速度，降低测试成本。 | ||
| 申请公布号 | CN103366826A | 申请公布日期 | 2013.10.23 |
| 申请号 | CN201210100117.8 | 申请日期 | 2012.04.06 |
| 申请人 | 北京兆易创新科技股份有限公司 | 发明人 | 苏志强;丁冲 |
| 分类号 | G11C29/10(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/10(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人 | 栗若木;曲鹏 |
| 主权项 | 一种NAND闪存芯片，包括：主阵列、控制模块；其特征在于，还包括：内置样本生成器；所述控制模块用于当要进行棋盘格检查时，指示所述内置样本生成器生成进行芯片编程所需的序列；待所述内置样本生成器生成序列后，发起编程执行命令，将所述序列从所述内置样本生成器传送到所述主阵列中进行编程。 | ||
| 地址 | 100083 北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层 | ||