发明名称 | 发热量测量系统以及发热量的测量方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种能够容易地测量气体的发热量的发热量测量系统。该发热量测量系统包括:容器(101),其被注入测量对象混合气体;微芯片(8),其被配置在容器(101)上且包含以多个发热温度进行发热的发热元件;测量部(301),其对来自多个发热温度的各温度下的与测量对象混合气体接触的发热元件的电信号的值进行测量;计算式存储装置(402),其保存以来自多个发热温度下的发热元件的电信号为独立变量、以发热量为从属变量的发热量计算式;和发热量计算部(305),其将来自发热元件的电信号的测量值代入发热量计算式的独立变量,计算测量对象混合气体的发热量的值。 | ||
申请公布号 | CN103364433A | 申请公布日期 | 2013.10.23 |
申请号 | CN201310060562.0 | 申请日期 | 2013.02.26 |
申请人 | 阿自倍尔株式会社 | 发明人 | 大石安治 |
分类号 | G01N25/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I |
代理机构 | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人 | 肖华 |
主权项 | 一种发热量计算式制作系统,其特征在于,包括:多种混合气体分别被注入的容器;设置于所述容器的、以多个发热温度发热的发热元件;测量部,其对来自所述多个发热温度的各种温度下的所述发热元件的电信号的值进行测量;和计算式制作部,其基于所述多种混合气体的发热量的值、以及来自所述多个发热温度下的所述发热元件的电信号的测量值,制作以来自所述多个发热温度下的所述发热元件的电信号为独立变量、以所述发热量为从属变量的发热量计算式。 | ||
地址 | 日本东京千代田区丸之内2丁目7番3号东京大楼 |