一种目标芯片中多个晶体管的测试方法

摘要

本发明涉及芯片测试领域，一种目标芯片中多个晶体管的测试方法，其特种在于：在目标芯片上自动选取自定义的多个晶体管，并在晶体管关键层上添加连接层，使被测晶体管与外面测试仪连接并测量。本发明由于自动产生测试结构，自动布线，极大的缩短了测试芯片晶体管的设计周期，极大的降低了测试芯片晶体管的设计过程中的错误率，提高了测试精度。

主权项

一种目标芯片中多个晶体管的测试方法，其特征在于：在目标芯片上自动选取自定义的晶体管，并在晶体管关键层上添加连接层，使被测晶体管与外面测试仪连接并接受测量。